WM—10水汞装置[专利]
WM—10水汞装置[专利]

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WM—10

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核心参数

仪器简介:

WM—10水汞装置[专利] 冷原子荧光光谱法测定水样中超痕量汞;国内首创用于直接测定“水样中超痕量汞”新颖的专用装置 (可与本公司AF–630A/ 640A/ 610B原子荧光光谱仪联用),从而拓展了原子荧光分析技术的新领域。



主要特点:

● 可满足地表水、海水(Ⅰ类、Ⅱ类)、自来水、 井水及水源水等水样中超痕量汞的测定。
● 超高分析灵敏度、检出限可达0.0003μg/L。
● 样品与KBH4的进样量及氩气流量由微机程序自动 控制,可以大大提高测定精密度。
● 独特设计的汞蒸气富集的气液分离器。

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