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1．采用新一代AFC(先进的流量控制器)设计,使载气控制方面有更高精度，实现了保留时间、峰面积、峰高的优良重现性。
2．GC-2010所有的检测器都重新设计，达到小型化、高灵敏度要求，均可满足快速分析的要求。其中，FPD（火焰光度检测器）采用全新镜面全光反射系统和聚光透镜，达到超高灵敏度。
3．新一代的AFC使GC-2010在标准配置下即可满足快速分析所需要的高柱头压（970kPa）、高载气流速（1200mL/min）等苛刻要求，使主机不需添加任何附件即可使用0.1mm，甚至0.05mm窄口径的快速分析柱。
4．工作站GCsolution的检测器数据采集速率高达250Hz（4msec），保证快速分析时数据的准确性和完整性。
5．柱温箱可达到最快的升温速率250℃/min,加快分析物流出，满足了快速分析所需要的升温要求，并方便用户对色谱柱进行老化。
6．主机的大液晶显示屏LCD及强大的帮助功能使操作更为简便直观。包括进样口、柱温箱、检测器的所有参数，升温程序以及实时得到的色谱图都一目了然地展现在使用者面前。
7．主机丰富的自诊断功能可定期针对电路、气路及各类消耗品进行自检，并生成自检报告以便工程师进行维护，从而保证仪器的故障率最低。
8．载气控制采用与分离性能具有相关性的载气线速度进行控制的方案——岛津专利的“载气恒线速度控制方式”，可以在最短时间内得到最优化分离条件。
9．为满足复杂样品分析，主机可安装3个进样口和4个检测器，从而省去了拆换检测器的麻烦。使用GCsolution可进行4种检测器同时检测。
10．2台AOC-20i与AOC-20s相组合，可构成双进样系统。两流路同时进样，双检测器同时检测。样品处理书增倍，效率大大提高，充分满足NY/T 761-2004的要求。
应对RoHS指令 ――快速分析
超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒
全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比
高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性
高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行
超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品
全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
QUANX 型 荧光能谱仪是一种快速无损高精度化学成分分析仪器。
用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器
从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至100%
1.适应窄径毛细柱的快速分析，有效降低分析成本
2.保留时间、峰面积及峰高均具有良好的重现性
3.丰富的载气控制功能
4.丰富的高性能检测器系列
5.功能多样、操作简便的软件
