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便携式X 荧光分析仪产品配置:
采用进口的美国AMPTEK 航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用进口的X 光管
采用进口的专用的X 光管高压电源
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备专业的RoHS 测试模式
配备Dell 的Intel 双核CPU 电脑(1G 内存、160G 硬盘)
配备Dell 17”宽屏高清液晶显示器
配备USB2.0 蓝牙适配器
配备高档的激光打印机
配备专用的制样机
配备专用的测试薄膜、测试样杯
配备专用的测试标样一套
便携式X 荧光分析仪技术指标:
分析元素范围:N a-U;
元素含量分析范围:0.0001%-99.99%(采用1024 道多道分析器);
采用美国航天技术Si (PIN)半导体探测器计数,能量分辨率极高,配合专利的数字脉冲处理技术,
分辨率可优于139eV;
测量范围:2-30KeV;
测量下限:Cd:15ppm;Pb、Hg:10ppm;Br:10ppm;Cr:30ppm;(以塑胶标样为例);
精确的RoHS 测试模式;
测量物质状态:固体、粉末、液体均可检测,制样简单;
校正方式:采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据;
重复性:<0.1%;
稳定性:< 0.01%;
高压:5kV-40kV(激发源为进口40KV-钨靶微型X 射线管);
管流:5μA-200μA;
整机能量分辨率:150±5eV;
检测时间:120S~240S;
整机功耗:4W;
仪器重量:3Kg;
一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;全中文应用软件,操作简单,测量时间短;同时配
备PC 机,分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PC 进行通信测试,方便携带和使用;
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)和化合物痕量检测
及钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测;
最多添加5台