u 采用2400万像素相机
u 测试速度快，测试周期达到5S/PCS
u 高清显示器： 43英寸屏幕
u 模块化设计：兼容小组件测试
u 带盖设计
ZQ150系列缺陷检测用于太阳能晶体硅组件/电池片的缺陷检测与维修，可人工对缺陷进行标记，保存在本地或远端数据库中，PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接，传输测试结果和报警信息，并可依据客户需求定制功能。
u 操作简单
采用无盖设计，无需开盖合盖，操作方便，层压前利于返修检测
u 半自动化测试
在离线模式时，可加装滑轨，提高人工测试效率
u 可测缺陷
黑心片、微隐裂、裂片、破洞、断栅、焊接缺陷等
设备型号 | ZQ150 |
生产指标 | |
产能 | 5s/pcs（离线典型值） |
最大可测面积 | 2400mm×1400mm |
适用工序 | 层压前、后组件测试 |
上料方式 | 手动 |
测量指标 | |
相机分辨率 | 2400W |
相机类型 | COMS |
曝光时间 | 1~30S（可调） |
显示器 | 43英寸屏幕 |
电源类型 | 可调电源 |
电压范围 | 0~60V连续可调 |
电流范围 | 0~20A连续可调 |
缺陷类型 | 正常检测:隐裂/碎片/低效率片/烧结网纹/材料缺陷/断栅 |
图像处理 | EL图像显示：图像放大、条码显示、缺陷标记 图像处理：增益、灰度、亮度、对比度调节 |
产品货期: 30天
整机质保期: 1年
培训服务: 额外提供免费培训
安装调试时间: 到货后3天内
电话支持响应时间: 24小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 3天内
