半导体推拉力测试机是一种采用插拔传感器模块的推拉力机
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¥10万

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Hinds Instruments

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TEST4000

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中国大陆

核心参数
  • 测试方法: 自动测试
  • 拉力测标配量程: 100g
  • 金球推力标配量程: 250g
  • 芯片推力标配量程: 10kg
  • 拉力测试满量程: 0-20kg
  • 推力满量程: 0-200kg
  • 传感器模块: 插拔式模块
  • 标配夹具: 定制X1
  • 三目显微镜: 高清CCD
  • 力值曲线图: 实时显示
  • CPK: 支持
  • MES: 支持
  • SPC数据管理: 支持
  • 数据导出: Excel
  • 设备保护: 智能防呆滞
  • 触底触边: 自动停止
  • 应用领域: 半导体推拉力测试
  • 应用范围1: 芯片推力测试
  • 应用范围2: 金球推力测试
  • 应用范围3: 金线拉力测试


TEST系列多功能半导体推拉力测试机是一种采用插拔传感器模块的推拉力机。它可以测试MCM封装的推拉力性能,确保各个芯片之间的连接稳固可靠。 该设备采用了AST自动挡技术技术和VPT垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克。

9B12,IC封装推拉力测试,断裂力学测试光通讯封装测试机固晶焊接剪切力测试机芯片垂直拉力测试.jpg

推拉力测试机是一种用于力学领域的物理性能测试仪器,可以应用于多个行业和材料。它可以用于测量各种材料的强度、弹性模量、屈服点、断裂韧性、延展性等力学性能参数。推拉力测试机可以用于芯片推力测试,金球推力测试和金线拉力测试 。

4,4B9光通信TO46焊球推力测试,其他弹性体测试,封装测试,晶片推力测试,导线拉力测试.jpg

智能LED灯光系统:当设备空闲状况下,照明灯光自动熄灭,人员操作时,LED照明灯自动开启;LED灯光亮度可调节,减少光源对视力的损伤、疲劳。

智能防呆滞功能:每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统,触底时设备自动停止并提醒测试人员。

二段限速功能:在推刀/钩针在下降到一定高度时,可以安全平缓地软着陆降到指定测试位置。

2,TEST4500-12,pos元器件芯片测试,剥离测试,COB大功率封装测试,金球推力测试,光通讯TO61封装测试.jpg

自动化测试:点击测试按钮,设备自动测试,无须人为干预,避免人为操作引起的数据偏差。

测试参数设置:产品参数、合格力值、测试速度、测试行程、剪切高度、测试结束回位方式...等均可根据需求调节。

插拔式模块:采用插拔式模块,可配置多个传感器模块,适应功能强大;


X-4000长图.jpg

售后服务承诺

产品货期: 1天

整机质保期: 2年

培训服务: 安装调试现场免费培训

安装调试时间: 到货后3天内

电话支持响应时间: 24小时内

是否提供维保合同:

维修响应时间: 1天内

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