Co-Aligned HP VNIR-SWIR全波段机载高光谱成像仪

‍‍‍‍‍‍‍‍      Co-Aligned HP 高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm，即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的光谱范围。集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪，其中，VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗，高灵敏度的 CMOS传感器，像元尺寸为5.86μm，SWIR（900-2500nm）的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器，像元尺寸为15μm，而分光光路均基于Headwall公司专利技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术，不仅保证了极低杂散光和成像畸变，同时也具有极高的热稳定性和信噪比。

‍‍       另外，Co-Aligned HP结构紧凑，是一套完整的Turnkey解决方案，重量仅为4.0kg，内部除了集成有高光谱成像仪外，同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块，高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中，系统配有大尺寸反射率定标毯，尺寸为3*3m，包含三种梯度反射率，可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正，反射率校正和几何校正等。

      Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成，专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。

主要特点：

1. 双探测器，光谱范围覆盖400-2500nm

2. 推扫式成像，可上传KML文件，基于地理位置触发采集

3. 反射分光，像差校正光路设计

4. 原刻全息反射光栅

5. 高精度IMU/GNSS，支持后差分处理

6. 用户可选配激光雷达，同步采集地形点云数据

7. 内部集成有采集控制模块，内置SSD

8. 专用三轴稳定云台，重量仅为1.5kg，快拆结构

9. 批量辐射校正，反射率校正，支持第三方DSM进行几何校正，图像镶嵌‍‍‍‍

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