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德瑞检测
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DR-H303-225A
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中国大陆
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德瑞检测 耐黄变照射试验箱DR-H303-225A
设备名称 | 耐黄变老化试验箱、耐黄变照射试验箱 | ||||
说 明 | 1、以下设备数据均需在环境温度（QT）25℃.工作室无负载条件下测得； 2、可根据用户的具体要求定做各种非标型设备； | ||||
型 号 | DR-H303-100 | DR-H303-225 | DR-H303-500 | DR-H303-010 | |
工作室尺寸（mm） | 450×450×500 | 500×600×750 | 700×800×900 | 1000×1000×1000 | |
功率（kw） | 3 | 4 | 5 | 7 | |
性能指标 | 温度范围 | 常温～50℃耐黄变试验，去灯泡可设置150℃老化试验 | |||
波动/均匀度 | ≤±0.5℃/≤2℃ | ||||
时间设定范围 | 0～9999（h 、m、s）可调 | ||||
循环方式 | 强制风循环方式 | ||||
紫外光源 | 试验方法A:选用1只紫外线灯泡，光波波长为（280～400）nm，灯泡光源每次不间断工作3h～24h以上，灯泡紫外线强度为（25±0.4）W/m2，使用寿命至少1000h；灯泡底距离为（250±2）mm）。 试验方法B:选用2支紫外线灯管，光波波长为（280～400）nm，使用寿命至少500h； | ||||
样品转速 | 旋转式样品架，高度、转速可调（一般工作速度为（3±1）r/min） | ||||
温度运行控制统 | 控制仪 | 液晶屏触摸键温度控制仪，温度直接显示，操作简单；精度：0.1℃(显示范围) （选配:进口触摸屏温度控制仪） | |||
输出方式 | 脉冲式固态继电器（PID+SSR）输出 | ||||
传感器 | 铂金电阻 PT100Ω/MV或K型 | ||||
加热系统 | 耐高温釉质磁架镍铬合金电加热式加热器 | ||||
电器控制 | 知名品牌电器执行元器件 | ||||
驱动系统 | 减速电机驱动转盘 | ||||
保护系统 | 漏电、短路、超温、电机过热、电源欠相、逆相保护等 | ||||
材料配置 | 外壳材料 | 优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理 | |||
内胆材料 | SUS201不锈钢拉丝板 | ||||
门框密封 | 双层耐高低温老化硅胶/石棉绳门密封条 | ||||
标准配置 | 不锈钢样品架1件 | ||||
备注 | 1、使用条件：环境温度：5℃～＋28℃（24小时内平均温度≤28℃） 环境湿度：≤85% 电源要求：220V/380V（ ±10%）V/50HZ 三相五线制 | ||||
德瑞检测 耐黄变照射试验箱DR-H303-225A简介
耐黄老化试验机也称老化试验箱，利用热或光对试样进行老化作用的试验箱，符合JIS-P8127、ASTM D1148标准。
德瑞检测 耐黄变照射试验箱DR-H303-225A主要用途
1.耐黄老化试验机可做二种测试：老化与耐黄变
2.老化：促进加硫橡胶之劣化，以计算加热前后拉力及伸长之变化率，一般认为在70 ℃下测试一天，理论上相当于暴露在大气中6个月的时间；
3.耐黄：模拟大气环境中，受阳光紫外线照射，外观变化一般认为在50℃下测试9小时，理论上相当于暴露在大气中6个月的时间。
德瑞检测 灯泡式耐黄老化试验箱DR-H303-225结构特点
1.大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
2.热风循环系统由能在高温下连续运转的风机和特殊风道组成，工作室内温度均匀。
3.试验箱内配有低转速转盘。
4.箱体保温采用超细玻璃纤维保温棉，可避免不必要的能量损失。
5.箱体左侧配一直50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。
6.控制系统 测温传感器： PT100铂金电阻。
7.触控式设定、数位及直接显示
广东德瑞检测设备有限公司生产销售的产品有上百种，其主导产品有恒温恒湿试验箱、高低温冲击试验箱、高低温试验箱、步入式恒温恒湿试验室、快速温变试验箱、温湿振三综合试验箱、盐雾试验机、精密烤箱、淋雨试验箱、沙尘试验箱、QUV紫外光老化试验箱、氙灯试验箱、耐黄变/老化试验箱、灼热丝试验机、漏电起痕试验机、材料拉力试验机、熔融指数测试仪、落球冲击试验机、二次元影像测量仪、药品低温试验箱、药品干燥箱/干燥房、药品包装纸箱抗压试验机、模拟运输振动试验台、电磁式振动试验台等
产品货期: 30天
整机质保期: 2年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后3天内
电话支持响应时间: 2小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 2天内
高温老化箱 高温老化试验箱
型号：DR-HAST-450 7.98万 - 17.98万
德瑞PCT饱和加速寿命老化试验箱DR-PCT350B
型号：DR-PCT350B 4.38万 - 9.98万
德瑞检测 uv紫外老化箱DR-H302D
型号：DR-H302D 面议
德瑞检测 氙灯老化测试机DR-H301E
型号：DR-H301E 面议1 范围 GB/T4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下： a)检测和测量半导体器件关健参数的退化与中子注量的关系； b)确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内 (见第4章)。 2试验设备 2.1 测试仪器 辐射试验中采用的测试仪器应是能测量所要求电参数的标准实验室电子测试仪器，如电源、数字电压表和皮安培计等。
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