广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P

广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P  解析

冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P 满足的试验方法:

GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4、国军标GJB150.3-86;

5、国军标GJB150.4-86;

6、国军标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

箱体结构：

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。

我们工厂有多款型号供您根据贵司自己的测试产品尺寸来选型号，您家适合哪款随时告诉我哦

广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P 操作流程

一般来说，高低温冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、最之后检测。下面皓天和大家一起分享一下详细流程内容:

1.预处理: 将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

2.初始检测: 将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。

3.试验:

1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

⑵)高温阶段结束后，在5imin内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。

4.恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。

5.最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。