梅特勒 XPR/XS系列分析天平/电子天平

天平特点：
采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；
具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
红外感应器(SmartSens)^*，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等；
网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；
水平控制系统(LevelControl)^*，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能；
专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
最小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活)；
天平校验功能(BalanceCheck)^*，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确；
显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；
符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息；
GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作；
*仅XP天平

天平参数：
XPR分析天平：量程120g~520g，可读性0.01mg~0.1mg
XS分析天平：量程120g~220g，可读性0.01mg~0.1mg

天平应用:

梅特勒托利多XPR分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用，同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。而XS分析天平，则是食品化工行业，关注至高称量效率，易于清洁的理想选择。