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美国PSS
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Nicomp Z3000
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中国大陆
产地类别： 进口
粒度测量范围： 0.3nm~10um
粒度测量重现性： ±99%
测试温度： 0-90℃
温控精度： ±0.1℃
粒度检测方法： 湿法检测
样品浓度范围： 40%w/v
样品量范围： 10uL-4mL
Zeta 电位测量范围： -500mV~500mV
测量时间： 1-10min
分子量测量范围： 342-20MDa
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工作原理：
粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering,DLS）
ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）
检测范围：
粒径范围：0.3nm-10.0μm
ZETA电位：+/-500mV
Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。
技术优势
1、PMT高灵敏度检测器；
2、可搭配不同功率光源；
3、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；
4、钯电极；
5、精确度高，最接近样品真实值；
6、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换
7、快速检测，可以追溯历史数据；
8、结果数据以多种形式和格式呈现；
9、符合USP,CP等个多药典要求；
10、无需校准；
11、复合型算法：
（1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换
12、模块化设计便于维护和升级；
（1）可自动稀释模块专利（选配）；
（2）搭配多角度检测器（选配）；
（3）自动进样系统（选配）；
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
电话支持响应时间: 24小时内
维修响应时间: 3天内
美国PSS纳米粒度仪Nicomp Z3000的工作原理介绍
纳米粒度仪Nicomp Z3000的使用方法?
美国PSSNicomp Z3000多少钱一台?
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