产地类别: 进口
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ACZET安捷特--XRF镀层测厚仪
CUBE系列
一、功能
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
2. 镀层层数:多至5层。
3. 测量点尺寸:
(1)准直器φ0.3mm,可测量样品φ0.2-φ0.8毫米
(2)准直器φ0.1mm,可测量样品φ0.05-φ0.1毫米
4. 测量时间:通常35秒-180秒。
5. 样品尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。
6. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
7. 可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。
8. 同时定量测量8个元素。
9. 定性鉴定材料达20个元素。
10. 自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。
二、特点
1. 采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
2. X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。
3. 具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试
4. 相比其他分析设备,投入成本低
5. 仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性
6. 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,FP分析软件,无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
技术参数
Item 项目 | Part & Ref Number 部件号 | Commodity & Description 货物及描述 |
1 | Cube X射线镀层测厚仪 | X射线光管 微聚焦,高性能,钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm 高电压 50千伏(1.2毫安)可根据软件控制优化 探测器 SI-PIN 探测器 准直器 单一固定准直器直径0.3mm(可选配0.1mm) 样品仓 330 x 200 x 170 mm 样品台 手动Z轴样品台 电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W 仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm 仪器重量 27Kg Windows 10操作系统和计算机主机 19寸液晶显示器 |
产品货期: 5天
整机质保期: 1年
培训服务: 额外提供免费培训
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