全自动炭块电阻率测试仪GEST210

点对点/对地电阻测试仪 产品介绍

点对点/对地电阻测试仪 产品介绍 （防静电地坪涂装材料专用） 点对点/对地电阻测试仪 ZKGEST-121C 符合标准： SJ/T 11294-2018 SJ∕T 11294-2018 防静电地坪涂料通用规范 -附录A 静电性能测试方法 一、产品概述 本仪器主要适用于防静电地坪涂装材料防静电性能的测试，包括点对点电阻和对地电阻、人/鞋/地系统电阻和人体电压的测试。 二、技术指标： 序号 名称 技术指标 备注 1 电阻测量范围 0.01×104Ω ～1×1018Ω 2 电流测量范围为 2×10-4A～1×10-16A 3 显 示 方 式 数字液晶显示 4 内置测试电压 10V 、50V、100V、250、500、1000V 5 测量精度 ≥1×1010，精度：5%-10% ≤1×1010，精度：1% 6 供电电压 220V/50HZ 7 仪器功率 100W 8 外形尺寸 长宽高=300mm*300mm*150mm 9 仪器重量 约5KG 10 电极标配 重量2.5kg/测量直径63mm

四探针电阻率测定仪在微纳电子学中的应用

　　随着科技的不断进步，微纳电子学逐渐成为现代电子技术发展的重要方向。在这个尺度范围内，材料的性质与宏观世界有着显著不同，因此对材料的电性能研究尤为重要。四探针电阻率测定仪是一种高精度的测量工具，它可以准确评估微纳尺度下材料的电阻率，这对于微纳电子学领域的研发和制造过程具有着重要的意义。 　　四探针电阻率测定仪依据的是范德堡原理，通过四根探针以一定的排列方式接触到样品表面，利用电流探针和电压探针之间的电磁关系来测定样品的电阻率。与传统的二探针方法相比，四探针方法可以消除接触电阻的影响，得到更准确的测量结果。在微纳电子学领域，由于器件尺寸的缩小，对材料的电性能要求更为严格，这种无接触电阻影响的测量方式显得尤为重要。 　　在微纳电子学材料与器件的研制中，该仪器可用于多种材料的导电性能表征，如半导体薄膜、纳米线、石墨烯等。对于这些微纳尺度的材料，四探针技术能够提供精确的电阻率数据，帮助研究者评估材料的掺杂水平、载流子浓度和迁移率等重要参数。此外，该技术还可以用于薄膜厚度的测量和多层结构的电性能分析，为微纳电子学中的器件设计提供实验依据。