薄膜测厚仪
薄膜测厚仪

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CN61M/BM10-001

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核心参数


技术参数:
用途:
薄膜检测仪经多年研究而开发成功的一种薄膜测量仪器,对各种薄膜可以精确测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。

主要参数:

数显分辨率 0.01μm
最大示值误差 ±(0.1+0.01L)μm
测量范围 0-10mm

构成:

由光电传感器、测量座(标准式或便携式)、抬落机构(电动式、快门线式、手提式)、数显表(参看交流或直流数显表说明)等部分组成。

特点:

检定快速,准确。

测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差(参看交流或直流数显表说明)。

独特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好。

测量重复性好,漂移量很小。

可实现任意位置清零、公/英制转换、预先置数、自动求最大值和最小值等多种智能功能。

可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等。

对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不必提高温控要求即可使用。









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