苏州三值X荧光光谱仪EDX6000E镀层厚度检测仪

1.工作条件：

● 工作温度：15-30℃ 

● 相对湿度：40%～50%   

● 电 源：AC :220V ±5V

2.技术性能及指标:

1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

2. 元素含量分析范围为2PPm到99.99%；

3. 测量时间：60-200秒；

4. 同时分析镀层层数：最多可达3层

5. 镀层检测厚度范围：0.05-50μm（视材料类型而有所不同）

6. 采用微聚焦准直技术，最小可达Ф0.5mm,应对小样品和不规则样品测试轻松自如。

7. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度高达2PPM；   

8. 能量分辨率为149±5电子伏特；

9. 温度适应范围为15℃至30℃；

10 电源：交流220V±5V；

3.产品特点

1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

2.打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。

3.采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

 4.采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。

5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。

6.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级。

7.先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。

8.独有的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。

9.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。

10.电镀层专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便.

11.本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。  

4.仪器硬件部分主要配置                                             4.1Si-pin电制冷半导体探测器:（新型探测器）                        

4.1.1.  Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：149±5电子伏特

4.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。

4.2  X射线激发装置:                             

4.2.1. 灯丝电流输出：1mA；

4.2.2 .属于半损耗型部件，50W，空冷。

4.3  高压发射装置:

4.3.1. 电压大输出： 50kV；

4.3.2.最小5kv可控调节

4.3.3.自带电压过载保护

4.4 多道分析器:                      

4.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。

4.4.2  .最大道数： 4096；

4.4.3  包含信号增强处理

4.5光路过滤模块

4.5.1  降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。

4.5.2  将准直器与滤光处整合；

4.6  准直器自动切换模块

4.6.1多达7种选择，口径分别为Ф8-1＃、Ф8-2＃、Ф8-3＃、Ф4、Ф2、Ф1、Ф0.5。

4.7  滤光片自动切换模块

4.7.1五种滤光片的自由选择和切换。

4.8  准直器和滤光片的自由组合模块

4.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。

4.9工作曲线自动选择模块

4.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化演绎得更完美，使操作更人性，更方便。