XTD镀层测厚仪

仪器简介：

XTD是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

• 先进的EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可准确测量

• 上照式设计：实现可对大型工件进行快、准、稳高效率测量

• 自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦

• 变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测

• 小面积测量：测量面积小至0.002mm2

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

应用领域：

广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、卫浴装饰、精密电子、电镀行业等多种领域。

多元迭代EFP核心算法（专利号：2017SR567637）

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代研发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可准确分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可准确测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一层Ni和三层Ni的厚度均可测量。

技术参数：

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度最检出限：0.005μm

4. 成分检出限：1ppm

5. 测量直径小至0.05mm（测量面积小至0.002mm2）

6. 对焦距离：0-90mm

7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 仪器重量：100KG

选择一六仪器的四大理由：

1.一机多用，无损检测

2.测量面积小至0.002mm2

3.可检测凹槽0-90mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测