适用于SiCFRD,MOSFET(兼容Si基产品)、IGBT模块、 MOS管(兼容Si基产品)等器件的时间参数测试,是目前国内动态参数测试功能最齐全、性能最先进的测试系统。
测试能力:
IGBT开关时间测试
测试条件: ID:1A~200A, VDS:5V~3500V, VGS:-10V~20V, Rg:1R~100R 可调(可选择4挡和外接)
负载:阻性,感性负载可切换。
电感范围:100uH,200uH,500uH,1000uH
电阻范围:0.5R、1R、2R、4R
测试参数:
开通延迟td(on):20Ns – 10uS
关断延迟时间td(off):20Ns – 10uS、
上升时间tr:20Ns – 10uS
下降时间tf:20Ns – 10uS
开通能量Eon:0.1~1000mJ
关断能量Eoff:0.1~1000mJ
二极管反向恢复特性测试
测试条件:IF:1A~200A
反向电流VR:5V~3500V
di/dt:100A/us~10000A/us
负载:感性负载可选
电感范围:100uH、200 uH、500 uH、1000 uH
测试参数: trr:0.1nS -200nS
Qc:1nC~100uC
Irm:1A~200A
Erec:0.1uJ~1mJ
栅极电荷测试
测试条件: VDS:5V~3500V
ID:1A~200A
VGS:-10V~20V
测试参数:
Qgon、Qgd、Qgs:1nC~100uC
Vpl:-10V~20V
短路电流测试
测试条件:Pulse width:1us~100us, VDS:5V~3500V
测试参数: Peak ID:10A~1000A, Delta Vds:10V~200V
控制界面:上位机使用Labview界面开发,该程序体现为人机交互界面,作为测试平台的交互系统,通过与示波器、主控板等设备通讯,实现对设备的自动远程操作并指示示波器进行数据采集、在界面上复现示波器的测试波形、并对测试波形进行分析、计算,最终得到结果进行显示和存储。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 不限人次技术培训
免费仪器保养: 3月1次
保内维修承诺: 免费维修更换零件
报修承诺: 48小时内到达现场并进行维修
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