产地类别: 国产
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产品介绍:
冷热台可实现多种环境(气氛、真空、湿度等)与显微镜、拉曼、光谱仪、DIC等联用进行材料、器件等的成分、相变、形变、电学、光学性能等测试
本产品可广泛应用于半导体/微电子,电子,机电,物理,化学,材料,光电,纳米,微机电/MEMS,生物芯片,航空航天等研究领域,以及IC设计/制造/测试/封装、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生产制造领域。
产品特点:
温控精度高
升降温速度快
温控范围宽(-80~200℃ / -190~600℃)
可升级真空腔室(10-3mbar)
模块化设计,结构紧凑
上位机软件进行控制
接受各种定制需求
产品参数:
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
上海交通大学 | 2021-11-26 |
清华大学 | 2021-12-28 |
深圳大学 | 2021-12-08 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 按需求培训
免费仪器保养: 按需求保养
保内维修承诺: 非人为损坏免费维护
报修承诺: 工作日一小时内响应
文天精策 光学冷热台 CH600-190
型号:CH600-190 5万 - 10万文天精策 拉伸试验机冷热台 CH600-190-T
型号:CH600-190-T 5万 - 10万文天精策 探针冷热台 CH400-190-P4V
型号:CH400-190-P4V 5万 - 10万文天精策 原位拉伸冷热台 CH600-190-500TN
型号:CH600-190-500TN 面议文天精策XRD冷热台现有两款产品,可以实现的温度控制范围分别为:-190°C~600°C,RT~1200°C,在空气、惰性气体或真空的环境条件,与常见的X-射线衍射仪配套使用。XRD冷热台适合各种类型的样品在高低温下进行X-射线结构研究,多种样品架可配合反射和透射模式,支持在现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)上改造适配。
拉伸试验是材料机械性能试验的基本方法之一,是测定材料在拉伸载荷作用下的一系列特性的试验,又称抗拉试验。拉伸试验可测定材料的一系列强度指标及塑性指标。
文天精策将冷热原位拉伸台与视觉测试DIC集成,推出冷热原位拉伸微观测试系统。可实现多种环境下(气氛、真空、湿度等),同步测试柔性材料的应力应变、电学及 DIC数据。该系统可以实现恒速或恒力两种加载方式, 实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性,而且可以定量分析材料在测试过程中相变行为、裂纹萌生及扩展、断裂、弯曲等过程。
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