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晶圆电阻率测试仪
硅片方阻测试仪
涡流法低电阻率分析仪
晶锭电阻率分析仪
专注于非接触式半导体计量分析技术的开发和生产 ，攻克被国外卡脖子技术。
产品广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司先进计量分析测试技术，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1年一次
免费仪器保养: 6个月一次
保内维修承诺: 2小时响应
报修承诺: 48小时到现场
