产地类别: 进口
看了null的用户又看了
仪器简介:
精确检测光学镜片等表面镀膜物质反射率的理想选择。内建光源,专用三维样品台,显微聚焦功能和精确顶点定位机制。标准USB2.0/1.1接口,专用反射率检测软件
既可适合小面积曲面和平面样品反射率检测,又有外接探头选项可以现场检测大面积高曲率等特殊界面。
技术参数:
检测范围:350-1050nm
光斑尺寸:50um
样品曲率半径:-1R~-∞ ,:+1R~+∞
重现性:±0.01%
光学分辨率:3.5nm
测量时间:3-65535ms
主要特点:
1. 512元线性PDA阵列光谱仪,16位AD,USB2.0接口
2. 特殊半透镜专利技术,能高效收集试样表面反射光,避免底部反射光影响,提高测试精度
3. 限度的提高光纤到狭缝的能量利用效率
4. 外置式探头可选,更方便的用于大面积、高曲率、现场特殊环境监测
最多添加5台