产地类别： 进口
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仪器简介：
精确检测光学镜片等表面镀膜物质反射率的理想选择。内建光源，专用三维样品台，显微聚焦功能和精确顶点定位机制。标准USB2.0/1.1接口，专用反射率检测软件
既可适合小面积曲面和平面样品反射率检测，又有外接探头选项可以现场检测大面积高曲率等特殊界面。
技术参数：
检测范围：350-1050nm
光斑尺寸：50um
样品曲率半径：-1R～-∞ ，：+1R～+∞
重现性：±0.01%
光学分辨率：3.5nm
测量时间：3-65535ms
主要特点：
1. 512元线性PDA阵列光谱仪，16位AD，USB2.0接口
2. 特殊半透镜专利技术，能高效收集试样表面反射光，避免底部反射光影响，提高测试精度
3. 限度的提高光纤到狭缝的能量利用效率
4. 外置式探头可选，更方便的用于大面积、高曲率、现场特殊环境监测
