Nanosurf FlexAFM原子力显微镜
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Nanosurf FlexAFM原子力显微镜

¥80万

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纳瑟

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Nanosurf FlexAFM

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欧洲

核心参数

        原子力显微镜,一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。

        它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

        它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求,可测量固体表面、吸附体系等。
        原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧穿效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。


The flexible research AFM

 Modular concept to exactly match your needs
 Compatible with inverted microscopes
 Flat and linear scanning thanks to flexure-based scanner technology
 True flexibility with exchangeable cantilever holders for specialized tasks
 Scanning capabilities in liquid and advanced measurement modes
 Suitable for any sample size

For success in research, scientists depend on professional tools that can readily provide the information needed, regardless of the tasks at hand. By advancing key technologies and designs, Nanosurf has made the FlexAFM one of the most versatile and flexible AFMs ever, allowing a large variety of research applications to be handled with ease. In combination with the powerful C3000i controller, complex material characterizations are possible.


售后服务承诺

保修期: 2年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 保修期内:每年两次免费拜访;如非用户原因发生故障或使用缺陷,将免费提供所需配件

保内维修承诺: 免费维修更换零件。

报修承诺: 在用户报修后的在4小时内以邮件或电话回复响应,必要的话24小时内到达现场

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