3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50
3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50

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核心参数
仪器简介:
3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50 
低价及更好的功用和性能
 
DC, 1 mHz~100 kHz更宽范围的测量频率
 

 

5ms高速测量的LCR计 
宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 
测量14种参数(高分辨率和高精度) 
DC电阻测量
 
本机不提供测试冶具,订货时请选择一测试冶具选件。
 

 

 

基本参数
 

 

测量参数
 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
 
测量方法
 测量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),
或恒压10mV~5V(AC/DC). 检测: 电压,AC或DC
 
测量频率
 DC或者1mHz~100kHz
 
测量量程
 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00°,C: 0.3200pF~1.0000F, 
L: 16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
 
基本精度
 |Z|: ± 0.08%rdg.,θ: ± 0.05°
 
测量时间 |Z|的典型值
 快速:5ms~慢速:828ms
 
显示
 最大显示值99999,LCD背光功能
 
比较器功能
 设定:上、下限值,百分比或绝对值。
输出:3档(高,中,低),开路集电极
 
外部打印
 9442(搭配9443/9446/9593-01)
 
电源供应
 100~240V,AC,50/60Hz
 
体积及重量
 313宽 × 125高 × 290厚mm,4.5kg
 
附件
 电源线(1),保险丝(1)
 
 
 


技术参数:
3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50

主要特点:
3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50
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