镀层无损分析XRF测厚仪

T-350台式XRF镀层分析仪

硬件性能及优势

超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

仪器性能

元素分析范围从硫(S)到铀（U）

同时可以分析几十种以上元素，五层镀层

分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品

分析含量一般为ppm到99.9%  。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

仪器配置

高压电源  0 ~ 50KV

光管管流  0μA ~ 1000μA

摄像头

滤光片 可选择多种定制切换

探测器 美国进口探测器

多道分析器  JPSPEC-DPP

样品腔尺寸  310*280*60（mm）

测试时间 10sec ~ 100sec

仪器环境要求

环境温度   15°C ~ 30°C

相对湿度   35% ~ 70%

电源要求   AC 220V±5V, 50/60HZ

分析软件   JPSPEC-FP定性定量分析软件

外部尺寸   380*372*362（mm）

重量   29Kg

优势和特点

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心

*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享

*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

联系电话：丁女士