qs30系列工频介电常数介质损耗测定仪

高精密高压电容电桥QS30Ⅰ型简介

1.QS30介电常数介质损耗测试仪  简介

QS30Ⅰ型高压电桥为实验室用高精密高压电桥,可与各类高压标准电容器配合组成高压电容电桥，适宜于在高电压下测量电力电缆、高压套管、电力电容器、互感器等高压电力设备的电容量及损耗角正切值tgδ，以及各种固体或液体绝缘材料的介电常数（ε）及损失角正切值，也可测量高压变压器或电压互感器的比差和角差。电桥可外接电流互感器以扩大量程，测量大电容时本电桥为四端测量具有引线补偿装置，消除接线电阻引起的附加误差。本电桥还可测量电抗器的电感量及Q值。QS30Ⅰ-3型量程扩展器（供选购）能使主桥体的电容比从1000：1扩大到10⁶：1，当标准电容为1000pF时，仪器*大可测得1000uF。仪器内部的计算机能自动对测试数据进行处理，直接在面板上显示电容值及介损值tgδ和测试电压及流经标准电容的电流（Is），并可通过打印机将测试结果打印出来.

2. QS30介电常数介质损耗测试仪 主要技术指标

• 电桥电容比Cx/Cs（当额定比率为1：1时）为0到1.111110，步级0.000001，倍率（K）变化范围为1000、500、200、100、50、20、10、5、2、1共十档，电容的测量范围取决于标准电容器Cs的大小电容值，即Cx=Cs·K·（Cx/Cs）

• 电容比率值的测量准确度：电容比率读数第*只盘为满度时

 为±0.00005

• 电桥tgδ范围为-0.111110到+0.111110，步级为0.000001。

• tgδx测量准确度不大于±0.2% tgδx±1×10^-5

• 被测电容量显示：Cx=（0.1~1111.1110）Cn

• 被测电容介损显示：tgδ= -1.11×10^-1到1.11×10^-1  

• 外形尺寸：560（宽）*410（深）*390（高）毫米。

• 重量：约40公斤。