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Hinds Instruments
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EXICOR OIA
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美洲
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双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA
最早的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。
Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在国际领先的平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。我们的系统是无与伦比的！
了解更多产品信息以及价格请联系北京昊然伟业光电科技有限公司！
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 无
免费培训: 按Gentec-EO售后服务标准
免费仪器保养: 按Gentec-EO售后服务标准
保内维修承诺: 非人为原因损坏，质保1年
报修承诺: 24小时内有响应
Hinds Instruments光学测量仪EXICOR OIA的工作原理介绍
光学测量仪EXICOR OIA的使用方法?
Hinds InstrumentsEXICOR OIA多少钱一台?
光学测量仪EXICOR OIA可以检测什么？
光学测量仪EXICOR OIA使用的注意事项？
Hinds InstrumentsEXICOR OIA的说明书有吗？
Hinds Instruments光学测量仪EXICOR OIA的操作规程有吗？
Hinds Instruments光学测量仪EXICOR OIA报价含票含运吗？
Hinds InstrumentsEXICOR OIA有现货吗？
