研究级傅立叶变换真空红外光谱仪

1.产品介绍：

布鲁克的 VERTEX 70v 傅立叶变换红外光谱仪采用布鲁克知名的 RockSolid™ 干涉仪。它是适合高级研究应用的理想入门级系统。新型真空型光学平台具备同类领先规格。极具创新意义的设计成就了该系列谱仪极佳的灵活性和卓越的性能。数据采集使用delta-sigma自激型数/模转换器，该转换器具备真正的24位ADC动态范围。布鲁克先进专利技术DigiTect将此数模转换器与检测器自带的电子前置信号放大器整合到一起。很大限度地避免了外界模拟信号对光谱的干扰，确保了出色的信噪比。

2.特点介绍

全真空光学台设计

其全真空的光学设计，使VERTEX 70在中红外、近红外及远红外谱区具备非常高的灵敏度，使用户无需再担心水蒸气或二氧化碳的吸收会干扰或覆盖谱图中极弱的特征信号。该真空谱仪已被广泛应用于纳米科学领域，并成功获取了亚单分子层薄膜的信息。

极宽的谱区扩展

VERTEX 70V结合不同的光学器件，使谱区可以覆盖从太赫兹10 cm^-1起、中红外、近红外、可见光直至紫外光区28,000 cm^-1这一极宽的范围。预准直的光学器件和永久准直的RockSolid^TM干涉仪，让扩展谱区和仪器维护变得更加简单快捷。

VERTEX FM中远红外宽谱测试功能

全新的VERTEX FM功能使VERTEX 70(v)成为世界上第一台可以一次测试覆盖整个中、远红外光谱范围（即6000-80cm^-1 ，真空系列可达50cm^-1）的红外光谱仪。

BRAIN：布鲁克人工智能系统 (Bruker Artificial Intelligence Network)

布鲁克人工智能系统（BRAIN）包含自动识别测量附件（AAR）、自动识别光学配件（ACR）、自动调用及检查测量参数，大大降低了傅立叶红外光谱测量的难度，节省了实验时间，对各种，甚至包括高端科研在内的应用领域，都是同样的便捷可靠。另外，实时在线监控系统彻底简化了对仪器工作状态和性能指标的监测工作。一体化的OPUS^TM软件包将全面支持上述功能。

即插即用：使用简便

无论何时何地，只要插上电源，连接以太网，VERTEX 70系列谱仪即可开始正常工作。该系列谱仪采用了以太网式连接，客户可以通过局域网或互联网对谱仪进行远程操控。

外接附件、光源和检测器

VERTEX 70v真空光谱仪配备了5个光束输出端口和两个光束输入端口，借助外部测量附件、光源和检测器，您将能轻松进行系统升级。其中包括：

• 用于 VCD 和 PM-IRRAS 的PMA 50偏振调制附件

• PL II 光致发光模块

• RAM II FT-拉曼模块和RamanScope III FT-拉曼显微镜

• TGA-FT-IR 联用

• HYPERION 系列FTIR显微镜

• HYPERION 3000 FTIR 成像系统

• HTS-XT 高通量筛选eXTension

• IMAC 焦平面阵列宏观成像附件

• 外部样品室 XSA（真空或吹扫）

• 外部真空密闭的超高真空腔室（UHV）

• 真空PL/PT/PR测量单元

• 带中红外或近红外光纤探头的光纤耦合单元（用于固体和液体）

• 大型积分球

• 自动进样器

• 外接远红外Hg灯光源

• 独一无二的宽带中红外-远红外分束器和检测器(Bruker FM)

• 外部发射适配器

• 外部高性能中红外光源

• 外部真空4位检测器腔

• 适用于远红外光谱范围的辐射热测量计

3.应用介绍

VERTEX 70v真空光谱仪非常适用于需要高灵敏度、高稳定性和高时间分辨率的研究应用。低至远红外/太赫兹的光谱范围，使之还适用于工业领域的特定应用。多功能VERTEX 70v系统通过与适当的附件及相应的测试技术相结合，可为FTIR光谱分析领域几乎所有需求提供解决方案。

研究与开发

• 用于时间分辨以及幅度调制（AM）相位调制（PM）光谱的连续和步进扫描技术 (步进扫描 / 快速扫描 / 交叉扫描时间分辨光谱 TRS)

• 超高真空中的FT-IR光谱分析

• 用于电极表面和电解质的原位研究的FT-IR光谱电化学

• 蛋白质水溶液研究 (CONFOCHECK)

• 确定分子的绝对构型 (VCD)

制药

• 通过热分析对药物产品的稳定性和挥发物含量进行表征 (TGA-FT-IR)

• 远红外谱区区分活性药物成分的多晶型物 (Bruker FM)

聚合物和化学品

• 远红外谱区识别聚合物复合材料中的无机填料 (Bruker FM)

• 聚合物动态和流变学研究

• 测定挥发性化合物及表征热分解过程 (TGA-FTIR)

• 反应监测和反应控制 (中红外光纤探头)

• 识别无机矿物质和颜料

表面分析

• 薄膜和单分子层检测与表征

• 结合偏振调制进行表面分析（PM-IRRAS）

• 材料科学

• 光学和高反射材料（光窗、反射镜）的表征

• 通过光声光谱学（PAS）研究深色物质和深度剖析

• 材料的发射行为表征

半导体

• 硅晶圆中氧和碳含量的测定进行质量控制