线宽测试仪丨光噪声分析仪丨美国OEwaves
线宽测试仪丨光噪声分析仪丨美国OEwaves

¥30万

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OE4000

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美洲

核心参数

美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量,能够准确测试激光器光源的超低相位噪声。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试3Hz以下的激光器线宽,无需复杂的搭建系统。

产品特点:

n 超窄线宽/频率噪声测试

n 快速实时测量

n 瞬时线宽和扩展线宽分析

n 无需低噪声参考光源

n 接受客户定制,升级

可选项:

n 测量范围覆盖620nm~2.2μm

n 超低噪底

n RIN测试

n 扩展补偿频率范围到500MHz

n 扩展输入光功率范围

主要参数:

参数

1530-1565nm输入(其它波长可定制)

频率噪声灵敏度

10Hz

100Hz

1kHz

1MHz

标准噪底

250 Hz/√Hz

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

3 Hz/√Hz

超低噪底选项

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

2 Hz/√Hz

0.2 Hz/√Hz

洛伦兹线宽灵敏度

<10 Hz; <10 μS (标准噪底)

<0.5 Hz; <10 μS (超低噪底)

相位噪声噪底

-160 ± 2 dBc/Hz   > 10 MHz

线宽测试范围(FWHM

标准噪底:1 kHz ~ 10MHz (<10   ms)

超低噪底:3 Hz ~ 30 kHz (<   10 ms)

动态范围

60 dB

光输入功率范围

+5 dBm ~ +15 dBm   (PM-FC/APC)

偏移频率范围

10Hz ~ 1MHz

测量类型

零差相位/频率噪声

RIN选项(噪底:-158 ± 2 dB/Hz>1 MHz

带宽分辨率

0.1 Hz ~ 200 kHz


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训:

免费仪器保养: 面议

保内维修承诺:

报修承诺: 面议

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