Xevo G2-XS Tof质谱仪
Xevo G2-XS Tof质谱仪

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沃特世

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Xevo G2-XS Tof质谱仪

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美洲

核心参数

产品概述

§ 结合StepWave™离子光学组件和XS碰撞室技术,保持着一如既往的良好 选择性,同时带来灵敏度的显著提升。

§ 长时分析期间,关键的硬件组件可持久保持洁净,为您提供更重现性的结果, 保证实验室生产效率。

§ 分析大量样品时,可获取比以往更多、更有意义的组分信息,帮助您全面深 入了解样品,制定更可靠的决策。

§ 本系统可在短时间内收集充分了解样品所需的详尽、准确的各目标组分定性 及定量信息,完整展现出现代分离技术的优势。

 

优势特点:

§ 保证卓越性能的同时最大化提升稳定性

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§ 通用离子源结构

通用型离子源结构可以将单一分析平台用于多种不同应用和化合物类型, 并可以根据需求和优先情况的变化添加新的功能。所有离子源选件都设计 为可快速互换,并在数分钟内即可使用。

§ 高稳定性

当样品中不同组分的浓度相差很大时,仍需根据峰面积和精确质量数准确 测定每种成分。

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§ 全面的定性和定量信息

利用Xevo G2-XS Tof,您可以快速轻松地设计出一个实验,无论是否进行 色谱分离,都可为每种可检测组分收集精确质量数母离子和碎片离子数据。

 

配置

 

离子源

ESIESCi®APCIAPPIAPGCASAP ionKey/ MS™

启动软件

IntelliStart

数据采集

UPLC/MSE

碰撞室

XS碰撞室

 


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1人次技术培训

免费仪器保养:

保内维修承诺: 免费更换零件

报修承诺: 24小时到场

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Xevo G2-XS Tof质谱仪信息由上海暄泓科学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于Xevo G2-XS Tof质谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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