设备出租：FEI扫描电镜

FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜

1.设备生产日期：2013年，设备目前在使用状态，一切良好

2.设备到位时间：合同签订后，预付6个月押金后的1个月内。

3.金鉴承诺服务：

（1）安装调试，使用培训

（2）3个月保修

（3）过保修期，配件，耗材客户自行找二手设备商更换，金鉴可帮介绍二手设备商

4.设备特点：

（1）分辨率高，放大2万倍依然很清晰

（2）原价180万，配置高，探头多。相对于传统配置，多了红外探头、低真空模式探头和背散射探头

（3）其低真空模式二次电子探头

5.设备参数：

FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜

Quanta Inspect Specifications（Quanta Inspect 低真空扫描电子显微镜技术参数）

Resolution（分辨率）：

- 3.0nm @30 kV High vacuum mode（高真空模式下30 kV时，3.0nm）

- 3.0nm @30 kV Low vacuum mode（低真空模式下30 kV时，3.0nm）

Magnification（放大倍数）：

- 7x to 600,000x连续可调

Accelerating voltage（加速电压）：

- 200V to 30 kV （200V~30kV）连续可调

Filament（灯丝）

- W. hairpin filament（钨灯丝）

Maximum probe current（最大束流）：

- 2μA

Chamber vacuum（样品室真空）：

- 6x10^-4 to 270Pa（6x10^-4 ~270Pa ）

Two modes: high vacuum, low vacuum（两种模式：高真空，低真空）

Vacuum system（真空系统）：

- 1x250 Vs TMP（1个250 Vs分子涡轮膜）

- 2x2 PVP （2个机械泵）

- Through-the-lens differential pumping（透镜内距差真空系统）

Detectors（探测器）：

- Eyehardt Thornley SED（高真空模式E-T二次电子探头）

- Large Field Gaseous SED（低真空模式LF GSED 二次电子探头）

- IR-CCD （红外CCD机）

- Solid-State SED（固体电子探头）

Chamber（样品室）

-284nm left to right（左右长度284nm）

-10nm analysis WD （10nm 分析二次距离）

Image processor（图像处理）：

- Up to 3584x3094 pixels（最大3584x3094像素）

- File type: TIFF(8 or 16 bit), BMP, or JPEG（图像格式：TIFF，BMP或JPEG）

Image display （图像显示）：

-17’’LCD,SVGA 1280X1024（17’’LCD显示器，1280X1024分辨率）

-Single frame image display（单核图像显示）

-Frame average integration（帧平均成积分）

System control（系统控制）：

-32-bit graphical user interface, with Windows XP keyboard, optical mouse（32位图形用户界面，Windows XP键盘，鼠标）

Installation requirement（安装要求）：

-Power（电源）

 -Voltage（电压）：230V(6%,10%)

 -Frequency（频率）:50Hz or 60Hz

 -Power consumption （耗电量）＜15A for basic electroplate （电镀基本系统＜15A）

 -Earth resistance（地面电阻）:＜1Ohm

-Environment（环境）

 -Temperature （温度）：13-30℃

 -Relative humidity（相对湿度）：≦80%

6.应用案例：

（1）500放大倍率：

（2）5000放大倍率：

（3）10000放大倍率：