仪器简介：
无损伤地测量非磁性金属基体上非导电层的厚度；
两种测量方式：直接方式（DIRECT），成组方式（APPL）；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、
最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）；
可采用两种方法对仪器进行校准； 可存贮495个数据；
具有删除功能，对测量的单个或所有数据删除；
具有打印功能；电源欠压指示功能；
操作过程中有蜂鸣声（单次测量方式下）；
错误提示功能；手动和自动两种关机功能；
技术参数：
测头类型：N1；
测量范围：0~1250μm，铜上镀铬0-40μm；
低限分辨率：0.1μm；
示值误差：
一点校准 ±(3%H+1.5)μm；
二点校准 ±((1-3)%H+1.5)μm；
测试条件：
最小曲率半径3mm；
最小面积的直径 Ø5mm；
基体临界厚度0.3mm；
使用环境：
温度：0~40℃，
相对温度：20%~90%，
无强磁场环境；
电源：1/2镍氢电池5*1.2V 600mAh；
外型尺寸：270*86*47(mm)；
重量：约530g；
产地：中国
主要特点：
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