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SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定仪
刻痕是易拉盖的重要部份， 刻线残留量太厚， 开罐时拉环容易断，残留量太小， 密封不安全， 出现意外被裂甚至泄漏。至今为止，采用景深显微镜的系统取决于操作人员的技术程度， 它们用一个
外加的显示屏和测微计对刻线槽进行聚焦。由于不同的操作人员会对刻线不同地方聚焦，从而使得测量结果可重复性差， 通常会有明显的误差。
QBYV的易拉盖刻线检测仪， 采用创新的方法， 结合切边光学、激光技术及先进的软件处理， 减少测量过程中人为的影晌。该系统有效地改进了检测结果的可重复性， 系统直接与电脑联接，不需要任何外围设备如解码器、外设显示屏， 因而大大减少了成本和维修费用。
优势
● 采用激光聚焦技术
● 适用全部易拉盖型
● 可测量易拉盖的铆钉直径和厚度
应用
● 饮料易拉盖刻痕残余尺寸测量
● 食品易拉盖刻痕残余尺寸测量
技术参数
电源：100-240VAC 50-60Hz | 精度：±0.001 mm |
分辨率：0.001mm | 重复性：0.001 mm |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 我方工程师将对客户使用人员进行培训，使其能独立完成与设备、软件分析有关各项操作
免费仪器保养: 我司提供预防性维护保养服务
保内维修承诺: 在保修期内，凡非人为因素导致仪器的故障均免费维修，售后服务将为用户免费更换配件
报修承诺: 在接到用户仪器维护和保养服务通知后，售后服务部门将在2小时内响应
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