仪器简介：
DIC（Digital Image Correlation）数字图像相关技术是一种非接触式测量材料全场应变、位移的光学测量技术，该技术几乎适用于任何材料且测试面积广、结果精确。
Dantec Q-400μDIC丹迪公司研发生产的一款专门用于测量微电子元件、生物材料变形的显微DIC测量仪，可测量一些显微结构的翘曲实验、热膨胀系数等，具有精度高，体积小等优点。
技术参数：
测量维度：二维、三维
测量区域：0.1mm×0.1mm至17mm×17mm
测量精度：位移（1μm），应变（0.005%）
主要特点：
精度高、测量范围广、无接触、方便使用
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 我方将编制人员培训大纲，并提供培训用详细资料。
免费仪器保养: 提供仪器保养指导
保内维修承诺: 如因用户问题造成无法验收，保修期延长至到货后15个月的免费保修
报修承诺: 24小时内做出解决方案，如需要到现场进行处理的将在48小时到达现场。
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