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BXR-606 BXR-606B系列
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中国大陆
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1.采用美国原装电致冷高性能Si-PIN探测器，分辨率高，探测范围宽，涵盖RoHS、卤素、镀层、合金（含贵金属）及各种常规材料分析的基本要求。
2.配置国际先进的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能更佳，尤其在高计数率时有更好的分辨率（如Hg和CI等），高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短，测量重复性和长期稳定性更好。
3.内置高清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。
4.配套最新的fp测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果更加准确，更加接近真值水平。
| ※ 同时满足ROHS、卤素、镀层、合金等材料分析 | ※ 沿用美国成熟的X荧光技术 |
| ※ 集成FP法、Alpha系数法、经验系数法 | ※ 可生成各种人性化的检测报告 |
| ※ 软硬结合的防辐射设计 | ※ 操作简便、一键式操作设计 |
| ※ 智能软件自动设定参数和滤光片 | ※ 快速无损分析样品 |
| ※ 多种语言的操作系统 | ※ 超温保护、超载保护 |
| ※ 无需耗材 |
1、探测器：美国Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲高级分析系统；
2、高压电源：美国Spellman 50w（50kv/MA）；
3、X射线管：50w侧窗铍窗型X射线管；
4、能量分辨率：149ev；
5、元素分析范围：硫（S）-铀（U）；
6、测量时间：60-300S；
7、测量含量范围：1ppm-99.9%；
8、交流220v供电设备：1KVA交流净化稳压电源；
9、工作温度：10-30°C；
10、测量条件：大气环境；
