iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪

描述

电感耦合等离子体 (ICP) 光学发射光谱法 (OES) 是对液体和固体样品中的痕量元素进行分析和定量的公认的强大技术。

进样系统：

iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪出厂时已设定分析就绪的进样参数，所以用户不再需要优化泵速度、等离子体射频功率和气体流速。

• 一个 3 通道、12 转子的蠕动泵，带有独特的排液监测传感器，提供顺畅、低噪音的信号和安全的操作

• 插入式炬管座和接头方便安装/拆卸

• 组合式进样系统易于重组和维护

• 增强基质耐受 (EMT)炬管设计改善了高基质样品的操作

• 光学排液监测传感器可监测来自雾化室的排液情况，在发现不正常排液的情况下可自动熄灭等离子体炬焰，从而节约样品、气体和电力

• 提供一系列的 CETAC 自动进样器，从而能够优化 iCAP 7200 ICP-OES 进行自动化、无人照看的分析

等离子体和射频发生器：

• 双向（垂直和水平）等离子体观测

光学系统：

• 光学系统的低吹扫气体流量有助于减少运行费用

• 高光传输效率的光学设计可提供优异的灵敏度

• 高分辨率中阶梯光谱仪通过减少光谱重叠提高检测准确度

• 具有热切断设计的恒温控制多色器增强了长期稳定性，可在不再进行校准的情况下延长分析运行

检测器：

• 电荷注入装置 (CID) 检测器： CID-86

• 可以在 175 到 847 nm 范围内自由连续选择波长

• 具备抗邻近像素晕光效应的功能，减少了复杂样品基质引起的假阳性结果

• 非破坏性读取和随机存取的集成改善了信背比和检测限