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【产品简介】
Nanite无与伦比的精巧设计让其成为工业自动化应用的理想AFM。小于1nm的高分辨率,能用于微小表面结构检测和成像。高度自动化和联用多样性让质量控制提升至全新水平。Nanite可用于检测产品表面结构形貌或其他非形貌(如力学)特征等。Nanite是工程科研、生物材料研究、半导体制造等行业质量控制的首选设备。
【仪器参数】
最大扫描范围 | 110μm | 10μm |
最大Z向范围 | 22μm | 2.0μm |
Z向分辨率 | 0.34nm | 0.027nm |
XY向分辨率 | 1.7nm | 0.15nm |
最多添加5台