¥10万 - 20万
应用光谱
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Plasma Emission Messurement System
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欧洲
看了白光干涉测厚仪的用户又看了
等离子体发射测量
在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射
低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程，如PVD（物理气象沉积）是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查，有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作，其结果也不容易理解。与此相比，使用OES（发射光谱）和光纤耦合TranSpec光谱仪的有点是显而易见的。
技术特征
在200…1000nm光谱范围内可同时测量
可检测非常底的发射信号
可连接到几乎每个真空室
无需维护
舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件
用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 现场培训
免费仪器保养: 1年一次
保内维修承诺: 免费更换非人为损坏的配件
报修承诺: 24小时回应
