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这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。
四点探针系统为您的研究提供以下益处:
? 广泛的薄膜电阻测量范围,从10mΩ/□到10MΩ/□
? 弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏
? 体积小巧,可用于空间有限的繁忙实验室
? 易操作的PC软件,用于薄膜电阻,电阻率和电导率的测量
? 使用自动校正因子计算加快材料表征
? 使用保存设置可轻松重复测量
特征:
广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流,并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围,从10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多种材料。
非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量,四点探头采用镀金弹簧接触圆头, 60克的恒定接触力,防止探针刺破脆弱的薄膜,同时仍能提供良好的电接触。
节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件,我们能够将四点探头的占地面积降至最低(总台面面积12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。
易于使用 - 只需插入系统,安装软件,即可开始使用! 直观的界面和清洁的设计,简化了薄膜电阻的测量。
快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻,电阻率和电导率所有必要的测量和计算,从而使材料表征变得毫不费力。
不要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存,从而轻松查看实验的详细信息。 此外,这些设置文件可以通过相同的软件加载,加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量,您的研究成果可以显着增加
应用示例:
材料特性 - 电阻率是材料的固有特性,也是重要的电学特性。 它可以通过测量已知厚度的薄膜薄层的电阻来确定,这使得四点探针测量成为材料电特性的关键技术。
薄膜太阳能电池和发光二极管 - 薄膜器件(如钙钛矿太阳能电池或有机发光二极管)需要薄的导电电极,横向输送电荷以进行提取。 因此,需要低表面电阻材料来减少这个阶段的潜在损失。 当试图放大这些设备时,这变得更加重要,因为电荷在它们可被提取之前,不得不沿着电极方向行进。
测量规格
电压范围 | 100μV至10 V |
当前范围 | 10 nA到100 mA |
薄层电阻范围 | 10mΩ/□至10MΩ/□ |
测量精度 | < ±4% |
测量精度 | ±0.5% |
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