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测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率/反射率曲线，并对材料的颜色特性进行分析，实现280nm-2500nm极宽的测量范围，满足GAT744-2013 标准要求。
核心光学设备为国家863（高技术研究发展计划）项目研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7，978，324 B2），"国家首批自主创新产品"，"国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定，获"国际领先"评价。
主要特点
采用远方高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好
采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅，并采用带通色轮校正（BWCT）等多项杂散光修正专利技术，具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光
高性能准直光源，保证宽波段范围的测量条件
自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标
独特的紫外-可见波段的双光路设计，可对光源进行监控和自动补偿，减少光源变化带来的误差
极宽的光谱测量范围：280nm-2500nm
? 主要技术指标
测量功能 | 可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。 |
波长范围 | 280nm-2500nm； |
波长准确度 | 280-800nm波段：±0.3nm； 800-1600波段：±0.5nm； 1600-2550波段：±3nm； |
半峰带宽 | 280-800nm波段：3nm； 800-1600波段：9nm； 1600-2500波段：15nm； |
照明/接收条件 | 反射 5°/5°，透射：0/0 |
反射率范围 | 0-200%，分辨率0.001% |
照明孔径 | Φ20mm |
? 典型应用：
