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EVM系列测量仪是我公司生产的精密影像测量仪系列,具有功能强大、性能稳定、精度高、操作简单、维护方便等特点。可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化,并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中,以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如:品质检测、工程开发、绘图等用途。方便测量前角、后角、螺旋角、齿隙角等专用刀具角度,还可以进行基本几何测量(圆直径、长度、刃宽、芯厚、粗糙度等)。
相对于其他产品系列比较而言,该系列具有结构简单、承载能力强、工件放置空间开阔、装卸便捷等特点。
1. 型号规格:HK-EVM-1510P
2. 主要技术指标:
2.1测量范围:X=150mm,Y=100mm,Z=150mm
2.2金属台尺寸(mm):354×228
2.3玻璃台尺寸(mm):210×160
2.4外型尺寸L*W*H:X=540mm,Y=560mm,Z=850mm
2.5仪器重量:100kg
2.6 X.Y坐标示值误差≤(2.5+L/200)μm(L为被测长度单位:mm)
2.7分辨率:0.0005mm
2.8最大承受重量:30kg
2.9环境要求:
l 温度范围:20±5℃,0.5℃/h
l 湿度范围:45%-65%
l 电 源:220V(AC) ,50Hz ,30W
产品参数:
u 变焦镜筒:采用光学变焦物镜,光学放大倍率0.7X~4.5X,视频总放大倍率40X~400X连续可调,物方视场:10.6-1.6mm,按客户要求选配不同倍率物镜。
u 摄像机:配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机,图像表面纹理清晰,轮廓层次分明,保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。
u 底座:仪器底座采用高精度天然花岗石,稳定性高,硬度高,不易变形。
u 光栅尺:仪器平台带有高精度光栅尺(X,Y,Z三轴),解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。
u 光源:采用长寿命LED环形冷光源(表面光及底光),使工件表面照明均匀,边缘清晰,亮度可调。
u 导轨:双层工作平台设计,配备高精度滚动导轨,精度高,移动平稳轻松。
u 丝杆:X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动,避免了丝杆传动的间隙,灵敏度大大提高,亦可切换快速移动,提高工作效率。
工 作 台 | 仪器型号 | EVM-1510G | EVM-2010G | EVM-2515G | EVM-3020G | EVM-4030G |
金属台尺寸(mm) | 354×228 | 404×228 | 450×280 | 500×330 | 606×466 | |
玻璃台尺寸(mm) | 210×160 | 260×160 | 306×196 | 350×280 | 450×350 | |
运动行程(mm) | 150×100 | 200×100 | 250×150 | 300×200 | 400×300 | |
仪器重量(kg) | 100 | 110 | 120 | 140 | 240 | |
外型尺寸L*W*H | 756×540×860 | 670×660×950 | 720×950×1020 |
用户单位 | 采购时间 |
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浙江米祥精密模具配件有限公司 | 2017-07-04 |
浙江省北威模具工业有限公司 | 2017-11-07 |
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