产地类别： 进口
检测范围： 8pg/cm2
样本容量： ～50μl
进样体积： ～5.5μl
分析时间： ～10s
温控范围： 15°-45°，精确度为0.5℃
产品型号：AWS X4
X4系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术，可精确测量石英芯片表面质量和结构变化，提供实时的表面相互作用信息，如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等.
QCM-D技术基于声波在石英芯片本体和表面传播的性质变化，精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。 当芯片表面发生吸脱附反应时，表面波的频率和振幅将发生变化。
当吸脱附反应发生在芯片表面时，表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时，频率变化正比于质量变化，根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量。
吸附膜为柔性膜时，通过测量频率和耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息。
AWS X1耗散型石英晶体分析仪在倍频下同时监控频率和耗散变化，可以给出吸附膜的质量、粘度、弹性模量、粘性模量和厚度等信息。结合常规QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片，可精确检测声波在石英本体与表面的传播变化，提高测试的可靠性。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 客户现场免费培训
免费仪器保养: 3月1次
保内维修承诺: 免费更换维修部件
报修承诺: 2销售相应，48小时给出维修方案
结合电化学工作站与多参数石英晶体微天平研究金属聚苯胺导电聚合物金芯片上生长。 样品：30毫摩苯胺aniline + 1 摩高氯酸HClO4 芯片：5 MHz 标准金芯片 测试频率：1倍频和3倍频下测试
耗散型石英晶体微天平QCMD同时测量芯片表面薄膜的频率表化和耗散/半高宽变化，可用于分析研究薄膜的构象变化。本文应用耗散型石英晶体微天平QCMD成功区分了脂质体和双分子脂层。同样也可以QCMD用于区分单核蛋白质的光滑层和聚集的聚集体，鉴别单核和簇状的膜结合蛋白是直的还是弯曲的，研究环状环状表面嫁接的DNA分子等等。
CaM可结合4个钙离子，有两种构象，无钙的 Apo-CaM与钙饱和的Holo-CaM. 增加钙离子可使CaM从一个“开放形式”的构象转变为疏水结构接触的构象。用AWS A20石英晶体微天平研究钙调蛋白聚合的钙离子
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