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每个芯片都有唯一的序列号，次使用时对芯片进行标记和校正，后其后所有的实验数据均能够和芯片初始的状态进行对比，了解芯片当前情况。
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每个芯片都有唯一的序列号，次使用时对芯片进行标记和校正，后其后所有的实验数据均能够和芯片初始的状态进行对比，了解芯片当前情况。
芯片状态回溯系统可以研究芯片离线改性引起的质量变化。在初始校正后，芯片如果通过离线改性增加了一定的重量，再次将芯片置入测量池后，所检测到的频率相比初始频率会产生一定的差值，这一频率差就表征了离线改性的增重量。
同时，该系统也可以检测芯片在反复使用后，与初始状态相比的差异，从而用来了解芯片状况。
