C-Therm TCi导热仪/导热系数仪

         加拿大C-Therm公司（C-Therm Technologies Ltd. ）拥有世界领先的导热系数仪TCi。TCi采用“改良瞬态平面热源法(Modified Transient Plane Source，”MTPS”)”的专利技术，可直接对固体、液体、粉末和胶体等各种材料的导热系数（thermal conductivity）和热逸散率（thermal effusivity）进行快速、精确地测定。TCi的应用领域包括聚合物材料、相变材料、粉末材料、热界面材料、纳米材料、传热流体、隔热材料、热电材料、含能材料、建筑材料、地质材料和功能性织物等等，全球的客户包括美国海军、NASA、3M、霍尼韦尔、宝洁、杜邦、三星、清华大学、中国工程物理研究院、中科院化学所、北京理工等研究机构和高校。

        TCi可用于实验室研发，质检控制及生产制造过程。测试仅需短短几秒，无需对样品进行制备，没有样品尺寸限制，且测试对样品无损。

        TCi测试导热系数范围为0-500 W/mK，适用温度范围为-50°C~200°C，并可根据需要扩展至500°C。测试精确度优于5%，重复性优于1%。

         TCi导热系数仪能非常方便地同控温箱、高压仓和手套箱等其他实验设备联合使用，满足用户对各种测试环境的不同需求。

         除MTPS探头外，TCi另有瞬态热线法（Transient Line Source）探头可选，用于测试熔融高分子，土壤，沥青、油、蜡等材料。

技术指标

导热系数测试范围    0 to 500 W/mK

测试时间                  0.8 到 3 秒

最小测试样品尺寸    17.8mm 直径

最大测试样品尺寸    无限

最小测试样品厚度    通常 0.5mm, 基于测试物体的热传导性

最大测试样品厚度    无限

温度范围                 -50℃ 到 200℃, 可拓展至500 ℃

重复性                     优于 1%

精确度                     优于 5%

其他测量属性           热扩散值  比热容  密度

标准                        ASTM D7984-16、 ASTM D5334、ASTM D5930，IEEE 442-1981