光谱范围: 紫外
按探测器: CCD
光谱范围: 165-1100 nm(可定制)
分辨率: 0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围)
灵敏度: 6.5 uV/e-
信噪比: >1300:1
动态范围: 5000:1
杂散光: <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm; <10% at 250 nm
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产品概述
ATP5105是奥谱天成研制的高性能紫外增强制冷型微型光纤光谱仪,它采用2048×64像素的制冷型线性CCD,CCD采用半导体制冷技术,CCD可工作在设定的恒温环境(最低可达-15oC),从而大幅降低了传感器的噪声,获得了极佳的信噪比(比同类竞争对手提高了约2倍),而且提高了ATP5105的测量可靠性,测量结果不随环境温度变化。
同时,奥谱天成为ATP5105特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界最佳水平。
ATP5105可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光,通过USB2.0或者UART端口,输出测量所得的光谱数据。
ATP5105只需要一个5V直流电源供电,非常便于集成使用。
特点:
紫外增强高性能背照式CCD
专门针对紫外优化的光路和结构;
探测器:背照式CCD(制冷至-15 oC)
探测器像素:3072
超低噪声CCD信号处理电路
光谱范围: 165-1100 nm
光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)
光路结构:交叉C-T
积分时间:2ms-130s
供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光输入接口:SMA905或自由空间
数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
20针双排可编程外扩接口
典型应用:
拉曼光谱仪
微量、快速分光光度计;
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测;
反射率检测;
紫外、可见和短波近红外
波长检测
探测器 | |
类型 | 线阵背照式CCD (制冷到 -15oC) |
探测光谱范围 | 165-1100 nm |
有效像素 | 3072 |
像元尺寸 | 600μm×8μm |
全量程范围 | ~200 ke- |
灵敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪声 | 6 e- |
光学参数 | |
波长范围 | 165-1100 nm |
光学分辨率 | 0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围) |
性噪比 | >1300:1 |
动态范围 | 5000:1 |
工作温度 | -10-40 oC |
工作湿度 | < 85%RH |
光路参数 | |
光学设计 | f/4 交叉非对称C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狭缝宽度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纤接口、自由空间 |
电气参数 | |
积分时间 | 1 ms - 130 second |
数据输出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供电电源 | DC 5V±10% |
工作电流 | <2.3A |
存储温度 | -20°C to +70°C |
操作温度 | -10°C to +40°C |
物理参数 | |
尺寸 | 120×80×46 mm3 |
重量 | 0.5 kg |
Sealing | Anti-sweat |
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