冷热冲击应力试验箱

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品牌

赛思SETH

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型号

SER-A3

荣誉奖项

产地

中国大陆

东莞市赛思检测设备有限公司

银牌
第2年
一般经销商

营业执照已审核

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核心参数

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冷热冲击应力试验箱也称热应力速变试验箱系统结构可分为高温槽预热区，低温槽预冷区两部分，通过控制移动式提篮试验样品放置区快速移动到低温槽或高温槽的方式达到快速冷热冲击试验，试验过程试验样品随同移动式提篮一起移动。热应力速变试验箱相比高低温两箱式冷热冲击试验箱具有更快的温度转换到达速度，应力速变时间小于10秒，为试验样品提供更严苛的测试。热应力速变试验箱适用于考核整机产品、元器件、零部件、材料等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验箱以在最短时间内评估试验样品因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温值、试验样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备。

冷热冲击应力试验箱特点：

1、可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、低温储存功能；2、等均温速率赛思可设定范围5℃～30℃/min(40℃/min)；

3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求；4、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行；5、除霜周期三天除霜一次，赛思每次除霜只需1小时完成；6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能；7、感测器放置测试区出（回）风口赛思设计符合实验有效性；

冷热冲击快速温变试验箱：满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验
	28℃/min→	LED汽车照明灯
	25℃/min→	PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应
	24℃/min→	光纤连接头
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命
	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、汽车引擎盖下环境)
	11℃/min→	无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试
	5℃/min→	锡须温度循环试验

冷热冲击应力试验箱技术参数：

型号	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
内箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
温度范围	-80.00℃～+200.00℃
低温冲击范围	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高温冲击范围	+60.00℃～+150.00℃
时间设定范围	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
温度波动度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
温度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
温度均匀度	＜2.00℃以内
温变速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
温变范围	-55℃～+85℃//+125℃