仪器简介：
ARL ADVANT’X 系列XRF 光谱仪
X 射线管
固定晶体读头
晶体
固定探测器读头
2θ 角驱动
探测器光栅
θ 角驱动
晶体光栅
出射准直器
探测器
样品
先进的仪器
ARL ADVANT’X 系列扫描X 射线荧光光谱仪具有多种选择，满足
您的各种需要。该系列仪器能够分析元素周期表中多达84 个元素，
样品可以是导电或非导电的固体或液体。如从油、聚合物、水泥或
石矿材料中的少量元素分析到玻璃、金属、矿石，耐火材料和地质
材料等的全分析。无标样分析软件包－ Quant AS 或UniQuant®
或OptiQuant 与该仪器结合，可以简单快速分析未知和无标样的
样品，扩大了仪器的应用范围。
通用无齿轮磨损测角仪
ARL 莫尔条纹测角仪是ADVANT’X 系列扫描X 射线荧光光谱仪的心
脏。快速、灵活和可靠的分析保证来自于精巧的无摩擦定位系统。探
测器和晶体系统独立旋转，电子－光学读出器计算两个光栅系统干
涉所产生的莫尔条纹数来准确定位。这种设计具有如下突出的特点：
转动速度高达4800°2θ/ 分，比普通测角仪快4 倍。
无摩擦意味着不随时间而产生磨损，确保测角仪有优良的角度重
现性。
峰值定位准确，如LiF 晶体的角度准确度为±0.015°，因而峰值
能在理论角度出现。
晶体和探测器θ/2θ关系的对准由微处理器自动完成。与普通系统
不同，不需要任何机械调整。
非耦合移动允许两个探测器并排安装，这样可在每个探测器前设
置最佳的出射准直器，使计数率和分辨率达到最佳。
最多可安装9 块晶体。您可选择最适合每个X 射线谱区的晶体。
为了达到最佳的分辨率或强度，最多可有4个不同发散角度的入
射准直器供选用。
在多任务模式下的微处理器工作确保晶体、准直器和探测器的快速
定位。整个测角仪在真空室的恒温控制下，以确保长期稳定性。此
外，由于晶体对温度的变化格外敏感，因此对每块晶体再进行恒温，
温度波动控制在±0.1℃。
技术参数：
ARL ADVANT’X 系列
ARL ADVANT’X+ 技术规格：
---------------------------
---------------------------
元素范围 : 5B －92U（在通用测角仪上配置相应的晶体）；9F －92U(SmartGonio)
光谱仪环境 : 真空；氦气或干氮用于液样分析（流量<1 升/ 分＋ 3 升/ 样）
光谱室设计:测角仪置于一个灰铸铁制成的小真空室内，温度波动由差动加热/冷却系统控制在±0.3℃；
晶体温度波动控制在±0.1℃
光谱仪布置:X 射线管轴线与测角仪观看样品面的视线夹角为60°
X 射线管:高性能Rh 阳极4GN 端窗管，超薄窗（75mm）
可选购5GN 50um 端窗管；可选购W或Mo阳极管
X 射线发生:固态1200W 高频发生器，最大电压60kV, 最大电流60mA（综合选择不超过1200W）
最大线电压变化-15%〜10%；外电压每波动1% 时，稳定性为±0.0001%
测角仪:通用测角仪
规格同ADVANT’XP/ARLADVANT’XP+（见前页）
SmartGonio
全自动、无齿轮、可编程微处理器控制，采用光电耦合技术
3 块平面晶体
2 个探测器：闪烁计数器和流气正比计数器（Ar/CH410% 流量5~10 毫升/ 分）
根据应用选择固定的准直器
全角范围：0°~150°2θ（流气正比计数器：17°~150°；闪烁计数器：0°~90°）
连续数字扫描：0.25°/ 分〜320°/ 分，与测量时间和增量成函数关系
步进扫描范围：最小步长：0.001°；最大实用步长：1.00°
每步测量时间：0.1-655 秒
计数电子系统:多道分析器用于识别高能级峰；数字自动增益控制（AGC）用于脉冲收缩修正。自动死
时间修正确保在流气正比计数器上有高达2Mcps 的线性响应，在闪烁计数器上有高达
1.5M cps 的线性响应
进样器:1 位进样器
12 位自动进样器，双向任意驱动，可设置优先分析位置
X-Y 大型自动进样器
内置程控双位送样系统:第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完
成退出时，第二个样品即进入分析位置。缩短样品就绪时间，提高测量速度
样品盒:样品最大尺寸：高度30mm，直径52mm，样品盒开口直径29mm（标准）
选择可编程孔径转换器，与样品盒开口直径38mm，29mm和15mm，或29mm，15mm
和8mm一同使用
样品盒在分析位置旋转速度：30rpm
入射光束滤光片:
3 位可编程入射束滤光器，改善X 射线激发
Cu 滤光片：分析轻基体和可变基体中的Ru、Rh、Pd、Ag 和Cd（受X射线管Rh 线干扰）
Al 滤光片：改进轻基体中Pb 或As 的峰背比
Fe 滤光片：改善Ni，
Cu 谱线的峰背比
防尘片做为选择，可代替Fe 滤光片。其他滤光片根据要求提供
冷却系统:内置式去离子水闭路循环冷却系统，无需外水冷系统
流量调节范围：0.5~5 升/ 分，取决于发生器的设置
尺寸和重量:H94cm，D83cm，W109cm。系统重量：约450kg
实验室:通过调制解调器的电话线远程诊断服务支持
电源要求：3.1KVA 单相
安全标准：
电气与防护：IEC1010-1，IEC950
辐射（全保护系统）：ORaP(CH)414.501 和BGB 1.I 标准
防电磁干扰：CENELEC EN 50081-2+EN 50082-2（工业）
主要特点：
先进的仪器
ARL ADVANT’X 系列扫描X 射线荧光光谱仪具有多种选择，满足
您的各种需要。该系列仪器能够分析元素周期表中多达84 个元素，
样品可以是导电或非导电的固体或液体。如从油、聚合物、水泥或
石矿材料中的少量元素分析到玻璃、金属、矿石，耐火材料和地质
材料等的全分析。无标样分析软件包－ Quant AS 或UniQuant®
或OptiQuant 与该仪器结合，可以简单快速分析未知和无标样的
样品，扩大了仪器的应用范围。
通用无齿轮磨损测角仪
ARL 莫尔条纹测角仪是ADVANT’X 系列扫描X 射线荧光光谱仪的心
脏。快速、灵活和可靠的分析保证来自于精巧的无摩擦定位系统。探
测器和晶体系统独立旋转，电子－光学读出器计算两个光栅系统干
涉所产生的莫尔条纹数来准确定位。这种设计具有如下突出的特点：
转动速度高达4800°2θ/ 分，比普通测角仪快4 倍。
无摩擦意味着不随时间而产生磨损，确保测角仪有优良的角度重
现性。
峰值定位准确，如LiF 晶体的角度准确度为±0.015°，因而峰值
能在理论角度出现。
晶体和探测器θ/2θ关系的对准由微处理器自动完成。与普通系统
不同，不需要任何机械调整。
非耦合移动允许两个探测器并排安装，这样可在每个探测器前设
置最佳的出射准直器，使计数率和分辨率达到最佳。
最多可安装9 块晶体。您可选择最适合每个X 射线谱区的晶体。
为了达到最佳的分辨率或强度，最多可有4个不同发散角度的入
射准直器供选用。
在多任务模式下的微处理器工作确保晶体、准直器和探测器的快速
定位。整个测角仪在真空室的恒温控制下，以确保长期稳定性。此
外，由于晶体对温度的变化格外敏感，因此对每块晶体再进行恒温，
温度波动控制在±0.1℃。
ARL ADVANT’X 系列
XRF 光谱仪
Metaverage：根据预置程序
进行样品分析平均
SPC-Full：仪器质量保证和生
产过程控制的统计过程控制
软件。具有自动评估和把
SPC试验结果反馈给操作者的
全在线功能
根据Thermo Electron或用户
定义格式进行储存的分析结
果的报告打印
Remote Sample Definition：
接收来自第三方软件的样品
编码和分析参数（如A R L
ARMS 或过程计算机）
Sentry：简化的样品登记，包
括支持条形码和批输入
OEM Mode：连接一台外部
过程计算机，用于自动化
Quant AS：无标样分析软
件包
UniQuant®：全能无标样软
件包
OptiQuanTM：优化的无标样
软件包，与SmartGonio 测角
仪结合使用。
WinXRF分析软件支持光谱仪操作
和数据处理。该软件设计在
Windows® XP专业版环境下运行。
主要功能
图形化的用户界面通过Internet
Explorer®浏览HTML页面实现引
导、操作和显示
分析帮助功能帮助操作者快速
编制工作曲线的分析程序和基
本的仪器操作
通过热键或软件快捷键进行快
速的日常分析
通过批指令按顺序进行自动分析
曲线背景修正
根据峰值和背景位置使用不同
的计数时间
根据强度或浓度响应自动选择分
析程序
类型标准化，以达到最佳分析准
确度
用户自定义的异常分析结果的标
志和颜色
质量检查和质量分类
口令保护结果修正的记录
浓度结果的重新计算
通过功能强大的多变量回归
（MVR）工具，快速准确地建立校
正曲线
漂移校正、类型标准化和校正曲
线变化的检查索引
仪器在分析时可同时进行后处
理，如结果储存和调用、统计和
输出（如Excell 表格）
SPC-Basic：在线SPC（统计过程控
制）基本软件，用于仪器控制
仪器报警和状态监控的图表显示
记录
多达8 个级别的密码保护
通过调制解调器连接的远程诊断
选择软件
ARLnet：通过LAN局域网的结果
传输方式，最多达18 个目的地。
其中包括：TCP/IP 计算机任务到
任务传输；结果的Netfile 传输到
本地或网络磁盘上以及在网络打
印机上打印
Compac：通过串行将结果传输
到多达5 台计算机
Remote：通过串行将结果传输到
多达8 台远程打印机或终端
NBSGSC：理论α系数计算程序
Charge Correction：炉料添加计算
液样分析
采用独特的快门设计，使固体样品
分析（真空环境）与液体样品分析
（氦气环境）的转换时间缩至小于
1.5 分钟，且只需要将初级样品室
（约3升）变为氦气环境，其它所有
测量元件仍处于真空恒温环境中。
此外，在液样盒进入样品室之前，
仪器自动识别液样盒，从而避免了
液样暴露在真空中的危险。
智能化控制
当前操作状态显示在显示屏上或仪
器的前显示板上。主微处理器XQM
通过全工通信方式与七个分微处理
器相连，控制仪器的整个操作，每
隔几秒监测仪器的250 多个状态
点，并驱动测角仪的运行。XQM处
理分析人员的指令，然后送到相关
的处理器。分析数据同时显示在显
示屏上。远程诊断可以通过连接调
制解调器来实现。
可编程进样系统
1 位进样
12 位自动进样器，常规使用
大型X-Y 进样器，有三种形式：
— 98 位带样品盒编码位置
— 49 位带样品盒编码位置和
2 个放置固定直径样品的试
样盘
14 位带样品盒编码位置和3 个
放置固定直径样品的试样盘
每个试样盘可放置
54 个样品，直径30.5~32mm
48 个样品，直径32~35mm
44 个样品，直径35~41mm
32 个样品，直径41~50mm
放置小样品的试样盘根据需要
提供
置于试样盘上的样品自动进入一个
特殊的样夹，然后进入仪器中。当
实验室工作量增加时，这种大型进
样器可以很容易改装。
高性能
该系列仪器配有4GN 端窗X 射线
管。这种X 射线管具有锥形头结
构，这样可以进一步缩小X射线管
阳极与样品间的距离，以保证对
所有样品的测量有最好的性能。
最新研制成的5GN X 射线管超薄
窗用于对轻元素(CI 以下)分析有
特殊要求的应用。这种薄型窗口
的X 光管与测角仪的多层晶体和
超粗准直器配合使用，能更进一
步改善对镁以下元素的测量性能。
功率选择
该系列仪器可以有不同功率的发
生器供选择，以最佳程度地适应
各种应用。
ADVANT’X+：配有1200W发
生器，并采用自身独立的循环
冷却，无需外水冷装置。
ADVANT’XP：配有3.6kW 发
生器，适合绝大多数需要低检
测限和高性能的应用。这种发
生器的最大输出电压60kV 或
选择70kV， 最大电流可达
120mA。
ADVANT’XP+：配有4.2kW 发
生器，是该系列中性能最高的
仪器型号，主要用于特别要求
极限性能的应用。
