夏克-哈德曼波前分析仪WFS

metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS

   Metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。

产品应用： 
  

用于测量激光的波前；

测量光学器件的像差；

扩展的Raylux软件用于数据分析；

 用于透镜的质量控制

产品参数：

测量精度:      λ / 1000 ；

曝光时间:      10 μs - 120 s  ；

数据解析度:    12 Bit；

帧率：        15fps ；    

 微透镜个数： 45×35；       

 探测器类型：  2/3CCD”；

有效区域：    8.97×6.71mm；

微透镜大小：  200μm；

焦距:          40 mm；

动态范围：    90 λ；

透镜焦距:      7 mm；

曲率半径:      14 mm ；

像素尺寸:      6.45 μm；

像素:          1380 x 1040 ；

                        软件界面