看了高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱的用户又看了
上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试
上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M
高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至
+225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
上海伯东客户现场图片:
鉴于信息保密,更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例,欢迎拨打客服热线:021-5046-3511!
上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Polycold 深冷泵;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。
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