产地类别: 国产
测足直径: 0-4mm(可选)
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薄膜厚度测量仪
CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
产品特点
◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
薄膜厚度测量仪
测试原理
CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。
测试标准
该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。
售后服务承诺
三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。
体系荣誉资质
ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。
实力铸造品牌
三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 1次专业技术培训,提供长期技术支持
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 三个月包换
报修承诺: 一年保修
药用铝箔热合热封强度测试仪
型号:HST-03 1万 - 3万医用包装材料力学性能测试仪
型号:MED-02 济南赛成仪器searching 1000薄膜抗冲击试验仪
型号:FIT-01 赛成实验室 5万 - 10万落镖式冲击试验仪_薄膜落镖冲击试验机
型号:济南赛成仪器 BMC-B1 1000高复合膜在现代工程领域中扮演着重要的角色,它不仅应用广泛,而且具有多种特性,如高强度、耐高温、耐腐蚀等。然而,为了确保高复合膜的质量稳定和一致性,精确测量膜的厚度是必不可少的。因此,薄膜测厚仪成为了研发和生产过程中不可或缺的环节。 根据测量原理的不同,薄膜测厚仪可以分为机械式测试仪、光学式测试仪和电子式测试仪。机械式测试仪通过机械感应原理来检测膜的厚度,适用于一些较粗的膜材料。光学式测试仪则是利用光学干涉原理来测量膜的厚度,可以实现对较薄的膜材料进行非接触式的测量。电子式测试仪则是通过电流、电压信号等电子测量原理进行厚度测量,具有高精度和快速测量的优势。 在选购薄膜测厚仪时,首先要考虑的是测试范围和测量精度。不同的应用场景需要不同的测试范围和精度,要根据实际需求选择合适的测试仪器。其次是测试仪器的稳定性和可靠性。高复合膜的生产过程往往是连续进行的,测试仪器需要能够长时间稳定运行,持续提供准确可靠的测试结果。此外,还需要考虑测试仪器的操作简便性和数据处理功能,以及售后服务和价格等方面。
在现代工业生产中,薄膜材料的使用越来越广泛,特别是在电子、光电、新材料等领域。为确保产品质量,薄膜测厚的准确性至关重要。接触式高精度薄膜测厚仪便是为满足这一需求而生的一种先进设备。本文将深入探讨接触式高精度薄膜测厚仪的工作原理、应用领域、优势以及未来的发展趋势。 一、接触式高精度薄膜测厚仪的工作原理 接触式高精度薄膜测厚仪主要依靠精准的机械探头与薄膜表面直接接触,通过传感器精确测量薄膜的厚度。其工作原理通常基于一定的物理原理,如电感、超声波或光学传感等。其中,电感式测量通常是通过探头与被测物质之间的电阻变化来获取厚度值,而超声波测量则是通过声波在薄膜内部的传播速度来实现。 这种直接接触的方法确保了测量的准确性与稳定性,同时能够适应各种不同类型的薄膜材料,包括金属薄膜、塑料薄膜及涂层等。由于其优秀的精度,接触式测厚仪常常被用于对极薄材料(如纳米级薄膜)的检测,满足行业内日益严苛的质量控制标准。
在现代工业生产中,薄膜厚度测量是确保产品质量和性能稳定的关键步骤。薄膜厚度测量仪作为一种精密仪器,在各种工业领域中发挥着不可或缺的作用。本文将深入探讨薄膜厚度测量仪的原理、应用场景以及选择时的考量因素,帮助您更好地了解和应用这一技术。 薄膜厚度测量仪的原理与工作方式 薄膜厚度测量仪通过多种精密的物理测量原理来准确测量薄膜的厚度。其中最常见的原理包括: 1. 光学干涉法:利用光的干涉现象来测量薄膜的厚度。这种方法适用于透明薄膜,通过测量反射或透射光的干涉条纹来计算厚度。 2. X射线吸收法:使用X射线穿过薄膜,并测量透射的X射线强度。不同厚度的薄膜会吸收不同量的X射线,从而可以推断出薄膜的厚度。
薄膜测厚仪是一种广泛应用于各行各业的仪器设备,它可以帮助我们准确地测量出薄膜的厚度,从而为生产制造过程中的质量控制提供重要参考。那么,在日常工作和生产中,我们如何正确使用薄膜测厚仪呢? 首先,要在使用薄膜测厚仪之前,务必仔细阅读使用说明书,了解仪器的基本结构和工作原理。熟悉仪器的各个部件及其功能,做到心中有数,才能更好地操作设备。 其次,选择合适的测量方法和参数设置也是至关重要的。根据被测薄膜的特性和厚度范围,合理选择测量方法,设置好相关参数,确保测量结果的准确性和可靠性。
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