XOS HD Prime 分析仪
XOS HD Prime 分析仪

¥50万 - 100万

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XOS

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HD Prime分析仪

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美洲

  • 金牌
  • 第9年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

仪器种类: 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

行业专用类型: 电子产品

元素分析范围: Pb,Sb,As,Ba,Cd,Cr,Hg,Se,Br,Cl

分析含量范围: 小于5000ppm

能量分辨率: 小于140ev

重复性: 0.1%

XOS HD Prime 分析仪 — 检测日用消费品中有毒元素

检测精准,操作便捷,样品无损,符合 ASTM F2853 和 F2617 标准。

HD Prime™ 分析仪可快速定性筛检和准确定量检测重金属和其他禁限有毒元素,是目前市场上全面、性价比高的检测方法。

不管全球标准和法规如何变化,该分析仪均能确保制造商、测试实验室、零售商和检测机构提交符合要求的文件。

XOS HD Prime 分析仪 

拥有如下特性:

很容易同步测出产品涂层和基材中的元素成份

具有前所未有的禁限金属检测下限

1mm 小面积分析,可以检测微小特性或组分和不规则形状样品

无损测量;无需样品准备

在多种环境中均方便使用

实现快速定性筛检或准确定量分析

自动保存高质量图像和扫描数据

唯有HDXRF® 是快速定性筛检和准确定量检测儿童用品中有毒元素的理想之选,操作便捷,性价比高。该分析仪提供无损测量,前期无需费时费力对价格昂贵的样品进行破坏性处理,需要时亦可返回审查记录的原始数据。

XOS HD Prime 分析仪 

HDXRF 是一种元素分析技术,它采用获得专利的 DCC 光学透镜以加强对儿童用品检测的精准度。

HDXRF 的主要优势是可以分别对产品涂层和基材进行元素定量分析。多个 DCC 透镜截获来自X光管的X白光束,并选定几个不同能量的光束,聚焦成很强的束斑,打在被测样品表面。

HDXRF选择高低能量不同的单色激发束,使用户能分别定量测出涂层和基底材料中有毒元素的成份。

HDXRF采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音,从而大大改善元素探测极限[参见下述图表]。这种技术采用聚焦束激发样品,可以形成一个准确且高度聚焦的 1mm 样品分析面积。该图表显示了 HDXRF 的基本构架,用于对玩具和儿童用品中的有毒元素进行检测。


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