AMETEK ORTEC GEM30P4 P型同轴高纯锗谱仪

ORTEC GEM-30-P4高纯锗伽玛谱仪技术指标

高纯锗探测器GEM30P4

晶体类型：    P型同轴高纯锗

相对探测效率：≥30%

能量分辨率FWHM：≤0.85 keV@122keV；≤1.85keV@1.33MeV

峰康比：       ≥60：1；

峰形：FW.1M/FWHM≤1.9  FW.02M/FWHM≤2.6；

封装特点： PopTop冷指可拆卸结构，端窗直径76mm，

电致冷装置CFG-XCOOLER-III-230

完全脱离液氮，性能稳定可靠；

要求体积小，能置于铅室下方空腔；

功耗：启动时<500 W； 运行时<400 W

数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE

-最大数据通过率：大于100kcps（低频抑制器LFR关闭）；大于34kcps（低频抑制器LFR开启）；

-具有低频噪声抑制、自动最优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能；

-液晶屏显示，能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息；USB2.0接口；

-系统变换增益（存储器分段）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道；

-积分非线性  ￡±0.025%；微分非线形     ￡±1%；

-数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；

-温度系数：  增益:<35ppm/°C ；零点:<3 ppm/°C；

-脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。

解谱软件GammaVision(A66-BWC)

中文软件，在中文Windows或XP上运行，可以自动或手工操作进行剥谱，以正确地对多核素间干扰进行校正；用户控制选定多种预置条件：指定MDA，指定统计测量，活时间，实时间，峰面积及谱计数率等；对峰核素加标识，以供操作员控制，求平均活度，选择性活度报告及MDA报告。

国产低本底铅室LX710：

铅室内腔尺寸：700px直径×1000px高

铅室主体由外到内的构造：9.5mm低碳钢外衬、101mm Doe Run老铅、0.5mm锡和1.6mm软铜内衬

本底保证值≤3.0cps

系统应适应的外部条件

-温度：0~50℃

-相对湿度：小于80%

-地面承重：大于1.6吨

-三相交流200~240V, 50Hz，可靠接地

供货期：签订合同后30天内到客户指定地点