三维超景深数码显微镜

三维超景深显微镜可获得样品的三维形貌，并可进行三维重构和测量，可应用于半导体、微纳米器件、机械制造、材料研究等领域的实验研究；如微芯片三维形貌分析，刻蚀试样三维形貌，封装材料，二元光学器件数据分析，机械、光学、镀膜、热处理等表面精确测量、材料显微压痕的三维测量分析、磨损表面质量评定、薄膜厚度测量、材料断口分析、金属材料和复合材料、生物材料研究等。
 
满足材料表面形貌的观察，平面或三维测量，可以用于材料实验室或生产现场观测；用于金属材料断口、裂纹，磨损，腐蚀情况的三维超景深金观测, 青铜器， 陶瓷，织物，木材，纤维，古字画，壁画等方面的研究.。三维超景深显微可大大降低样品制样的要求，多数样品无须制样即可以获得三维超景深的三维观察，三维拍照，三维分析效果。对于颗粒赝品的三维超景深显微图像的颗粒三维分析，粉末三维超景深图像和三维分析都可以获得良好的三维超景深显微镜效果。

超景深观察方式(EDF)

强大的景深扩展功能(EDF)，突破光学显微镜的景深限制，获得全视场清晰图像；

超大视野观察方式(MIS)

自动图像拼接功能(MIS)，扩大显微镜的视野限制，得到平滑过度的高分辨率大视野图像；

3D表面形貌与3D测量(3D Surface)

3D表面形貌、表面细节等多种浏览方式(3D Surface)；3D模式下测量凹槽深度(3D Measure)；

全自动颗粒分析与统计

提供功能强大的颗粒分析、统计工具。

自动识别颗粒、自动测量颗粒面积、粒度、圆度、最大卡规直径、形态特征等大量参数。按照参数进行分类统计，给出统计柱状图和报告。